【欧菲特】上海慕尼黑电子展精彩回顾

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高温动态栅偏测试设备(HTDGS)主要用于半导体器件的动态栅偏试验，设备可以施加指定的栅极压力(县体压力客户可以根据实际需求进行配置)，能通过计算机设定试验参数和监控参数，采集并记录所有实时测试参数，如温度、时间、电压、漏电流等，试验过程中可以按照程序设置要求进行阈值电压 VGETH等参数的监测。机台阈值电压测量满足测试标准AQG324、JEP183A的Gated-diode方法，同时参考JEP184给出各种测试模型。